Avec ce nouveau module, National Instruments étend les fonctionnalités de son logiciel pour le test des semi-conducteurs.

L’américain National Instruments, leader en systèmes de test basés sur plates-formes, vient d’ajouter à son logiciel de gestion des tests le module TestStand Semiconductor. Le logiciel intègre ainsi tous les outils nécessaires pour développer, déployer et maintenir rapidement des systèmes de test de semi-conducteurs.

Parmi les améliorations, citons des fonctionnalités supplémentaires dédiées aux équipements multisites et à la création de rapports, ainsi que des interfaces prober/manipulateur pour obtenir des systèmes de test plus « intelligents ». Par exemple, une programmation dynamique multisite pour réutiliser du code sur plusieurs sites de test selon les besoins, la présence d’un éditeur de mappage de broches incluant la technologie PXI et des instruments tiers, un processeur de résultats au format STDF pour l’enregistrement de résultats de tests paramétriques standard.

Le module TestStand Semiconductor permet ainsi de réduire significativement les coûts de développement et d’augmenter la capacité de production. « Après l’introduction en 2014 du Semiconductor Test System (STS), il est aujourd’hui possible d’optimiser l’élaboration de tests de la caractérisation à la production, en s’appuyant sur ce module de TestStand », explique Ron Wolfe, vice-président Test de semi-conducteurs de National Instruments.