La démocratisation des liaisons optiques impose de tester plus fréquemment les connecteurs associés. C'est précisément la raison d'être de l'AQ7420 que vient de lancer Yokogawa Test & Measurement. Ce réflectomètre analyse la structure interne des modules optiques et visualise les microfissures dans les connecteurs optiques. Il combine une résolution spatiale de 40µm et une sensibilité allant jusqu'à -100dB pour les mesures de réflexion arrière. Une tête de capteur optionnelle permet de mesurer simultanément la perte d'insertion en plus de la rétrodiffusion optique.

Yokogawa décline l'AQ7420 en deux versions : l'une à longueur d'onde unique (1310nm), l'autre à deux longueurs d'onde (1310 et 1550nm). Par rapport aux appareils à technologie OLCR/OFDR, le Japonais met en avant la propension de l'AQ7420 à réduire le bruit parasite. Le temps de mesure a également été réduit de moitié à six secondes, contre douze avec le précédent AQ7410.