On trouve une famille de connecteurs Extended-K et des composants W1 supplémentaires pour le test.

Le japonais Anritsu, fabricant de solutions de test et mesure en RF et hyperfréquences, en optiques, en radiocommunications, etc., vient d’introduire la famille de connecteurs Extended-K et d’étendre sa gamme de composants W1 (1,0 mm ; voir photographie).

La nouvelle famille Extended-K se distingue par des avantages en termes de coût et de performances (conformes MIL-PRF-39012 et MIL-STD-202F) pour les applications de test dans les fréquences allant du continu à 43,5 GHz. Ces nouveaux connecteurs flexibles, sans mode et traçablespeuvent servir d’alternative au ré-outillage d’un jeu de test pour connecteurs de 2,4 mm.

La gamme de composants W1 se voit compléter de tés de polarisation, de blocs DC et de câbles semi-rigides fonctionnant à des fréquences comprises entre le continu et 110 GHz. Assurant davantage de flexibilité pour réaliser les tests, ils répondent à une demande pour laquelle les dispositifs conventionnels, y compris les guides d’ondes, n’existent pas. La société affirme ainsi proposer l’offre de composants coaxiaux millimétriques la plus large du marché pour les systèmes de test.

Les composants d’Anritsu peuvent ainsi être associés à des analyseurs de réseau vectoriel, des oscilloscopes numériques et des testeurs de taux d’erreur sur les bits (BERT), ainsi qu’à des émetteurs/récepteurs optiques, des diodes laser, des photodiodes et des modulateurs optiques. L’interface coaxiale W1 permet une connexion directe au port de test de l’instrument, ce qui fait gagner du temps et simplifie la configuration du système.