L’un portera sur la compatibilité électromagnétique (CEM) et l’autre sur l’intégrité de signal et de la puissance.

La filiale française du groupe allemand Rohde & Schwarz, l’un des principaux fabricants mondiaux en test et mesure, en technologies des médias, en communications sécurisées, en radiosurveillance, etc., organise deux séminaires techniques, l’un sur la compatibilité électromagnétique (CEM) le 6 février prochain, l’autre sur l’intégrité de signal et de la puissance le 8 février.

Les deux séminaires se dérouleront à Meudon-la-Forêt (Hauts-de-Seine), dans les locaux de Rohde & Schwarz France. Lors de la journée du 6 février, co-organisée avec Würth Elektronik, seront abordées les mesures temporelles, la protection CEM, les mesures en temps réel, etc.

La journée du 8 février sera l’occasion, pour les personnes travaillant sur les systèmes embarqués et les objets connectés, de s’informer et d’échanger sur les mesures de puissance (oscilloscopes et sondes, analyseurs de spectre), ainsi que sur le couplage entre simulation et mesure d’intégrité de signal et de puissance sur les circuits imprimés complexes, via une présentation d’Ansys.