Analyse de faute en semi-conducteurs : DCG Systems acquiert MultiProbe

Le 10/06/2015 à 11:01 par Didier Girault
MultiProbe

MultiProbe est spécialisé dans la fabrication de systèmes de « nanoprobing » à force atomique, utilisés pour caractériser les paramètres électriques des transistors élémentaires des semi-conducteurs.

DCG Systems vient de racheter le californien MultiProbe spécialisé dans la fabrication de systèmes de « nanoprobing » à force atomique, utilisés pour caractériser les paramètres électriques des transistors élémentaires des semi-conducteurs.
Dans la pratique, ces systèmes fonctionnent en liaison avec des matériels de microscopie à force atomique dans lesquels ils sont intégrés.

Le catalogue d’équipements MultiProbe complète l’offre en nanoprobing intégré à des matériels de microscopie à balayage électronique de DCG Systems.

Ces deux sortes d’équipements servent à l’analyse de faute des transistors élémentaires (caractérisation et localisation des défauts électriques) dans un contexte d’amélioration du rendement de production en semi-conducteurs.
 

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