Lors du prochain Carrefour de l’industrie électronique et numérique, les syndicats de la production, d’une part, de la mesure et du test, d’autre part, proposeront une animation commune sur le thème du test à chaque étape de la production d’une carte électronique.
La manifestation Cien (Carrefour de l’industrie électronique et numérique), qui se tiendra Porte de Versailles à Paris du 1er au 3 juin prochain, inclura une animation sur le thème du test à chaque étape de la production d’une carte électronique.
Celle-ci sera proposée par le GFIE (Groupement des fournisseurs de l’industrie de l’électronique), le syndicat des fabricants d’équipements de production, et par le Simtec (Syndicat de l’instrumentation de mesure, du test et de la conversion d’énergie dans le domaine de l’électronique).
Toutes les techniques de contrôle et de test y seront exposées : inspection du dépôt de pâte à braser (SPI), inspection optique (AO), inspection à rayons X, testeur in-situ, testeur fonctionnel et testeur à sonde mobile.
Les démonstrations permettront aussi de faire comprendre l’incidence des procédés de fabrication sur la fiabilité des produits obtenus et de proposer des actions correctives. En outre, un logiciel d’analyse de testabilité permettra de mesurer la performance d’architectures de test suggérées par les visiteurs. Les sociétés participant à cette animation seront Accelonix, Aeroflex, Agilent, Anticyp, Cif, l’Iftec, Metronelec, National Insruments, Seica et Technicome.
