La gamme de relais Reed de Pickering Electronics pour les applications exigeantes d’instrumentation, de test et de mesure et de test de semi-conducteurs est désormais inscrite au catalogue du distributeur Farnell.
Spécialisé dans la fabrication de relais Reed, le Britannique Pickering Electronics voit ses relais Reed distribués à l’échelle mondiale par Farnell. Outre les applications mentionnées plus haut, ses produits conviennent également aux tests de véhicules électriques, aux applications d’énergie renouvelable et à l’aérospatial.
Les relais de la, société fondée en 1968, sont équipés « d’interrupteurs Reed de qualité instrumentation », testés à 100% pour tous les paramètres de fonctionnement, et également testés à 100% en cycle thermique de -20°C à +85°C. Ce protocole est répété trois fois pour tester les processus de fabrication. Tous les contacts de commutation sont hermétiquement scellés afin d’empêcher l’oxydation des contacts, qui peut se produire dans les relais de format ouvert conventionnels. Ces procédures permettent selon Farnell d’obtenir d’une longue durée de vie, garantie sur 25 ans. Le distributeur affirme également que « Pickering Electronics fabrique les plus petits relais Reed haute tension disponibles sur le marché. Par exemple, la série 131 a une distance minimale de 1,5kV, ainsi que la plus petite empreinte de relais Reed au monde – la série 120 qui offre jusqu’à 1A à 20W sur un pas de 4x4mm. Ces dispositifs ultracompacts permettent aux concepteurs d’installer jusqu’à 85% de relais en plus sur une carte de circuit imprimé (PCB) par rapport aux relais de taille standard de l’industrie, offrant ainsi plus d’options de commutation lors de la conception de systèmes de test exigeants ».
Entité du groupe privé Pickering, la société emploie plus de 500 personnes au Royaume-Uni et en République tchèque. Les relais Reed de Pickering Electronics sont disponibles en montage en surface (SMD), simple en ligne (SIL/SIP), double en ligne (DIL/DIP) et dans de nombreux autres styles de boîtiers populaires.
