Le boundary scan, une méthode de test à part entière
Poursuite de l'intégration dans les testeurs in situ, extension des fonctionnalités logicielles… Autant de bonnes raisons de mettre en oeuvre…
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Dans le même système TestStation, Teradyne a intégré deux testeurs in situ indépendants réduisant le temps de test, évitant ainsi…
La dernière génération de systèmes de test synthétiques d'Aeroflex se distingue par l'intégration de modules de tierces parties aux formats…
Organisé en partenariat avec FM Promotion, le tour de France 2008 des Journées du syndicat français de la mesure Simtec…
Réservée jusque-là aux utilisateurs de Simulink, la génération directe de code C peut désormais être réalisée depuis un algorithme écrit…
En renforçant les fonctionnalités de son outil de visualisation AutoVue 19.2, Oracle (ex-Cimmetry Systems) poursuit le déploiement de sa solution…
Spécialiste du procédé multiantennaire Mimo*, la société française Comsis est en passe de réussir son pari : lancer courant 2008 la…
Kontron vient de dévoiler le premier membre de sa famille de modules processeurs au format nanoETXexpress. Initié par le fabricant…
L'Union internationale des télécommunications (UIT) pourrait figer, en février prochain, les spécifications techniques d'une norme pour réseaux locaux résidentiels filaires.…
Le français eDevice, dont la pile Internet enfouie est déjà disponible sur des produits GSM/GPRS de Wavecom, a séduit un…
Les fournisseurs de circuits pour feature phones* ont tout intérêt à faciliter le travail des fabricants de téléphones. L'intégration d'une…
Le fabricant américain de semiconducteurs de puissance, International Rectifier, associe trois de ses meilleures puces dans un seul boîtier pour…
Le fabricant japonais de semiconducteurs de puissance radiofréquences Eudyna vient de présenter trois amplificateurs pour les liaisons satellites en bande…