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Système semi-automatique pour le test de Substrats
PA-300 de Suss MicroTec Cet équipement modulaire permet l’analyse de défauts, la vérification de conception, les tests paramétrique et fonctionnel et la caractérisation de composants pour des substrats jusqu’à 300 mm de diamètre. Gamme en fréquence : du continu à 110 GHz selon la configuration Résolution du positionnement des sondes en X-Y : 0,5 µm Vitesse de déplacement en X-Y :…
