Logiciel pour système de caractérisation

Le 02/10/2008 à 0:00 par La rédaction
KTEI 7.1 de Keithley Instruments Ce logiciel se dote de fonctionnalités supplémentaires, dont la prise en charge des composants haute puissance jusqu’à 200 V DC et 300 mA (4200-CVU-PWR CV Power Package). Polarisation DC différentielle jusqu’à 60 VTest C-V (capacité-tension) quasi statiqueJeu de bibliothèques de tests étenduDestiné au système de caractérisation des semiconducteurs 4200-SCSRens. : www.keithley.fr
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