Les logiciels pour le test des circuits intégrés évoluent tous azimuts

Le 19/06/2008 à 0:00 par Cédric Lardière
Prise en compte de la basse consommation, nouveaux algorithmes de compression des données, réduction du bruit de commutation, conception à un niveau d’abstraction plus élevé, amélioration des diagnostics… Autant d’axes d’évolution pour les méthodologies de test. Verbania (Italie). La beauté des lieux, à savoir les bords du Lac Majeur et le Grand Hôtel Majestic, n’a…
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