L’inspection mixte devient plus rapide

Le 03/07/2008 à 0:00 par La rédaction
Viscom combine inspection optique et rayons X dans un mode haute vitesse. La multiplication des circuits CSP ou BGA conduit les constructeurs d’équipement de test à panacher les fonctions de leurs machines, ou à les rendre tout simplement plus performantes. Ainsi, Viscom a présenté à Nuremberg à l’occasion de SMT, un système d’inspection optique et…
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