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Hyper : le testeur de semiconducteurs devient « solaire »
Le système de caractérisation des semiconducteurs Model 4200-SCS de l’américain Keithley Instruments se voit doté de fonctionnalités matérielles et logicielles supplémentaires : un neuvième emplacement dans les châssis Model 4200-SCS, une gamme de fréquences étendues allant de 1 kHz à 10 MHz pour les Model 4200-CVU, une bibliothèque pour les applications de tests I/V, C/V et de résistance…
