Fonctionnant jusqu’à 1,25 Géch./s, le DAC1627D offre deux canaux de résolution 16 bits. En matière de pureté spectrale, il est annoncé comme étant le plus performant du marché. A l’occasion de la manifestation IMS2011 qui se tiendra à Baltimore du 7 au 9 juin 2011, NXP Semiconductors dévoilera publiquement un double convertisseur N/A 16 bits de hautes performances destiné aux infrastructures de communications sans fil (GSM, CDMA, W-CDMA, WiMAX, LTE…).

Concrètement, le DAC1627D supporte une cadence d’échantillonnage de 1,25 Géch./s et affiche d’excellentes caractéristiques dynamiques, notamment en termes de pureté spectrale et de distorsion d’intermodulation sur une large bande de fréquence (200 MHz). Il satisfait ainsi aux fortes exigences du GSM multi-porteuse en matière de masque spectral de la puissance d’émission, de même qu’aux spécifications des standards LTE et LTE-Advanced. Et ce, aux dires de la société, avec des marges confortables.

Ce CNA en boîtier 72 broches de 10 x 10 mm dispose d’une interface parallèle LVDS à double débit de données (DDR). Une version dotée d’une interface série haute vitesse CGVxpress devrait être annoncée ultérieurement. Ce qui permettra de réduire fortement le nombre de broches, et par suite, la taille du circuit intégré, tout en simplifiant le routage sur la carte.