Le japonais et le français ont développé un système de test final avancé entièrement automatisé pour les circuits intégrés.
Le japonais Advantest, fabricant d’équipements de test pour semiconducteurs, et le français STMicroelectronics, l’un des leaders mondiaux des semiconducteurs, viennent d’annoncer le développement conjoint d’un système de test final avancé entièrement automatisé pour les circuits intégrés.
Cette cellule de test se compose du système testeur sur puce T2000 du japonais, du système de chargement des puces tri-temp M4841 et de plusieurs robots autonomes programmés pour charger et décharger les supports contenants les puces, l’ensemble étant piloté par le logiciel STCC (ST Test Cell Controller).
En plus de contrôler le testeur et de gérer le chargement, ce logiciel est aussi connecté avec le MES de STMicroelectronics, qui s’appuie sur le concept d’industrie 4.0 pour gérer les volumes de production et la performance des équipements dans l’ensemble de l’usine. Le système de test pilote a été déployé dans l’usine de STMicroelectronics à Muar (Malaisie).
L’association de la cellule de test et de STCC permet d’automatiser entièrement les opérations de tests en utilisant les techniques d’apprentissage automatique (machine learning) des machines et de surveillance astucieuse pour améliorer les rendements et l’efficacité globale des équipements – un large éventail de fonctions de maintenance prédictive et avancées minimise les temps de réparation en garantissant traçabilité et retest « intelligent » des puces –, tout en réduisant les coûts.
« Nous menons actuellement de nombreux projets dans le domaine de l’automatisation, de l’analyse et de la robotisation dans l’ensemble de nos activités back-enddans le monde, avec, pour objectif global, d’augmenter l’efficacité de nos processus de fabrication et de répondre aux exigences de plus en plus complexes de nos clients », explique Fabio Gualandris, vice-président exécutif et directeur de l’organisation Technologie et fabrication back-end de STMicroelectronics.