Il s’agit d’un générateur de formes d’onde arbitraires 400 ou 180 Méch./s et d’un numériseur 130 ou 180 Méch./s.
Astronics Test Systems, filiale de l’américain Astronics (ex-EADS Test and Services North America, à l’origine Racal Instruments) spécialisée dans les solutions de test clés en main, vient d’étendre son offre d’instruments au format PXI Express (PXIe), avec l’introduction du générateur de formes d’onde arbitraires PXIe-1802 et du numériseur PXIe-1803.
Ces deux modules PXIe 3U simple largeur affichent des capacités de test et une justesse de mesure inégalées dans ce facteur de forme pour l’aérospatial, la défense, les communications et autres applications à haute fiabilité. « La demande en instruments de test PXI continue de croître, tant pour ajouter des fonctionnalités supplémentaires aux systèmes de test existant que pour de nouvelles ressources », explique Steve Fairbanks, Senior Director of Product Marketing d’Astronics Test Systems.
Le générateur arbitraire PXIe-1802 dispose de 2 voies échantillonnées l’une à 400 Méch./s (résolution de 16 bits) et l’autre à 180 Méch./s (14 bits). Il affiche une bande passante de 125 ou 90 MHz, selon la voie, d’une dynamique de 82 dB à 1 MHz et d’une amplitude de sortie de 320 mV à 2,56 Vpp ou de 409,6 mV à 3,28 Vpp. Quant au numériseur 2 voies PXIe-1803, il se distingue par une fréquence d’échantillonnage de 130 Méch./s (14 bits) ou 180 Méch./s (16 bits), une bande passante de 65 ou 175 MHz et une profondeur mémoire de 64 Méch.
