Ce nouvel oscilloscope présente une gamme de mesure de tension pic à pic de 100 V à 1 Géch./s avec une résolution de 14 bits.

L’oscilloscope PXIe-5164 de NI repose sur l’architecture ouverte et modulaire PXI et intègre un FPGA programmable par l’utilisateur, afin de répondre aux besoins des applications dans les secteurs aérospatiale et défense, ou du semi-conducteur, qui nécessitent des mesures de hautes tensions et de grande précision.

« Les oscilloscopes NI au format PXI permettent de diminuer les temps de test, d’augmenter la densité de voies, et garantissent à présent une plus grande souplesse de mesure en associant une large bande passante, une haute résolution et une gamme de tensions élevée », explique Steve Warntjes, Vice-président de la R&D chez NI. « Les capacités de mesure de notre nouvel oscilloscope PXIe-5164 dépassent largement celles de n’importe quel instrument traditionnel actuellement disponible. Si vous devez mesurer un signal haute tension jusqu’à 100 Vpp à 1 Géch./s maximum, le convertisseur A/N 14 bits permet maintenant d’utiliser le même instrument pour visualiser de petits détails généralement masqués par le bruit de l’instrument. »

Le PXIe-5164 intègre :

• Deux voies échantillonnées à 1 Géch./s sur une bande passante de 400 MHz avec une résolution de 14 bits
• Deux voies CAT II avec une gamme de tension en entrée maximale de 100 Vpp et des offsets programmables permettant d’effectuer des mesures jusqu’à ± 250 V
• Jusqu’à 34 voies dans un seul châssis PXI pour concevoir des systèmes parallèles à grand nombre de voies dans un facteur de forme compact
• Un flux de données de 3,5 Go/s supporté via 8 voies de communication de bus PCI Express Gen 2
• Un FPGA Xilinx Kintex-7 410 permettant de développer des IP personnalisées en LabVIEW, notamment de filtrage et de déclenchement

Plus d’informations sur ce produit sur http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/de/nid/214128