Ce nouveau banc de test reposant sur le concept radiologiciel et la suite LabView Communications System Design, est destiné au prototypage et au test des nouvelles technologies 4G+.
A l’occasion du salon Mobile World Congress, qui vient de se tenir à Barcelone (Espagne), l’américain National Instruments, leader en systèmes de test basés sur plates-formes, a introduit un système pour le test, l’expérimentation et le prototypage des nouvelles technologies d’accès sans fil LTE Unlicensed (LTE-U) et/ou License Assisted Access (LAA), normes indispensables pour améliorer la 4G et faciliter la transition vers la 5G.
Reposant sur le concept radiologiciel USRP RIO et la suite LabView Communications System Design, ce banc d’essais temps réel est un système prêt à l’emploi et constitué également du framework d’applications LTE sous LabView Communications, du logiciel de référence configurable LTE-U et LAA et de deux radiologicielles USRP-2953R basées sur FPGA. La présence d’une couche physique LTE basée sur FPGA dans le code source permet de tester et d’évaluer différents scénarii LTE-U et LAA, voire de les enrichir pour augmenter les débits de données des systèmes et des infrastructures LTE et IEEE 802.11 existantes.
« Plusieurs suggestions ont été incluses au standard 3GPP pour minimiser les interférences avec les utilisateurs de bandes non soumises à licence (bande ISM 5,9 GHz ; d’où un partage du spectre avec les équipements Wi-Fi). Comme pour toute nouvelle norme, Il est nécessaire de mener des phases de prototypage et de test pour faciliter l’adoption. Notre banc d’essai LTE-U/LAA permettra aux chercheurs d’évaluer l’impact de la nouvelle norme dans des conditions de test spécifiques », explique James Kimery, directeur de la recherche RF et radiologicielle chez National Instruments.
