Cette journée regroupe des ateliers, des conférences et des démonstrations. 3M y présentera les Novec, des revêtements protecteurs ultrafins et faciles à déposer, destinés aux cartes électroniques.
Seica France, fabricant et distributeur d’équipements de production et de test, organise, le 25 mars prochain, dans ses nouveaux locaux d’Elancourt (78), une journée technique gratuite (sur inscription) privilégiant les ateliers.
Ceux-ci porteront sur l’utilisation du test à sonde mobile en retouche-reprise de carte ; sur l’influence du partenariat Seica- NI sur le test fonctionnel des cartes électroniques ; sur le point de vue d’Omron quant aux changements induits par la technologie 3D ; sur la comparaison des coûts d’utilisation des machines de brasage sous air, partiellement sous azote et entièrement sous azote ; sur l’importance de la traçabilité pour la production ; et sur l’utilisation de l’impression 3D en électronique.
Au cours de cette journée, 3M présentera des revêtements fluoro-polymères ultrafins (1µm d’épaisseur) destinés à protéger les assemblages électroniques. Baptisés Novec, ces revêtements s’insinuent sous les BGA, QFP, etc. – qui sont des boîtiers brasés au plus près du circuit imprimé.
Les Novec protègent les cartes électroniques contre l’humidité et les contaminants ambiants ; ce qui prend de l’importance avec la miniaturisation toujours croissante des composants et le rapprochement simultané des pistes et des connexions sur la carte. Ajoutons que les Novec se déposent par trempage ou via aérosol. En tout cas, ces produits révolutionnent le monde du revêtement protecteur.
Seica France indique que des conférences et des démonstrations se tiendront en parallèle aux ateliers précités.
Et pour fêter ses quinze ans, la société organise un cocktail à 18h30, ainsi qu’un tirage au sort dont le prix est une imprimante 3D (inscription obligatoire).
Pour davantage d’informations, contacter Lisa (tél : 01.39.30.66.77, mail : seica@seica.fr).
Pour s’inscrire : voir le site web de Seica (www.seica.fr) ou aller directement à l’adresse http://www.seica.fr/invitation-jpo-25-mars-2015/