Le Fischerscope XDLM 237 comprend un collimateur autorisant 4 tailles différentes de faisceau à rayons X. Il inclut une adaptation automatique du spectre de fluorescence X à différentes distances de mesure.
Fischer Technology présente le Fischerscope XDLM 237, un spectromètre à fluorescence X destiné à la mesure des revêtements (épaisseur et composition), qui procède en mesurant du haut vers le bas.
Cet appareil repose sur un tube émetteur de rayons X à micro-focale et sur un collimateur à quatre tailles d’ouverture ce qui permet d’adapter le diamètre du faisceau à la mesure à réaliser.
Il inclut un sous-ensemble d’adaptation automatique du spectre de fluorescence X à diverses distances de mesure.
Il est utilisé avec le logiciel WinFTM V6 de Fischer Technology.
