Cette nouvelle unité de source et mesure (SMU: Source Measure Units) affiche une fréquence d’échantillonnage 100 fois plus rapide avec une densité de voies au moins deux fois supérieure à celle des instruments traditionnels.

• Sensibilité de mesure de courant de 100fa

• Permet la caractérisation précise des matériels à base de semiconducteurs hautes performances

• Fréquence d’échantillonnage de 1,8méch./s

• capture des caractéristiques des matériels en régime transitoire sans oscilloscope externe

• Jusqu’à 17 voies Smu dans une baie 4u 19 pouces

• minimise l’encombrement pour les systèmes à grand nombre de voies

• technologie Sourceadapt

• réduction du temps de test global

• Protection du matériel sous test contre les dépassements (overshoot) et les oscillations même sur des charges capacitives ou inductives élevées

• capacité de mesure pulsée jusqu’à 500W

Réf. Edit. Rens. NI PxIe-4139 National Instruments www.ni.com