Système d’inspection de cartes par rayons X

Le 01/12/2003 à 0:00 par La rédaction
F.O.X. de Feinfocus Ce système permet maintenant de tester des cartes de 610 × 610 mm. Commande sur 6 axes (X,Y,Z et angle de vue oblique avec inclinaison ± 45°) Reconnaissance de caractéristique de 300 nm en XY Vitesse de 10 µm/s à 80 mm/s Amplification géométrique jusqu’à 2 400x (amplification totale jusqu’à 7 200x) Référence : F.O.X. Fabricant : Feinfocus Rens. : www.feinfocus.com
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