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A la recherche du latch-up
TEST & MEASUREMENT WORLD – SEPTEMBRE 2003Le test de latch-up transitoire révèle les faiblesses des composants que d’autres méthodes occultent. Les fabricants de semi-conducteurs se reposent sur les tests de latch-up pour caractériser la susceptibilité de leurs composants aux défaillances électriques. Les procédures de test sont diverses, mais l’unique méthode standardisée sous la référence JESD…
