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Système d’acquisition de données différentielles
Genesis de LDS Test & Measurement Le constructeur étend l’offre de cartes pour son système d’acquisition de données Genesis avec deux modèles de numérisation haute vitesse dotés de quatre voies de mesure différentielles par carte. Gamme de tension : ± 20 mV à ± 100 VFréquence d’échantillonnage par voie : 100 Méch/s sous 14 bits ou 25 Méch/s sous 15 bitsProfondeur…
